發布日期：2022-10-09 點擊率：54
虹科-萬片電容老化失效測試系統
系統介紹
該系統主要用于電容老化測試，通過給電容施加電壓，同時同時施加高溫和高濕的環境，來加速電容的老化，測試電容的可靠性。系統采用模塊化設計，支持通道擴展，并且針對每一個電流通道都單獨實現監測和控制斷開的功能，保證系統在其中某一個電容失效(短路)的時候不影響其他的通道。系統適合進行大規模的測試，一次的測試容量可達幾萬片，因此采用了多電源供電的方式，可選的電源擴展規模，能支持多路電源，即在一次測試中可以配置不同的通道供電電壓不同，從而實現了同一次長時間加熱加濕的過程中測試多種規格的電容。極大提升測試效率。
主要功能
1. 系統主要用于電容的老化測試
2. 系統提供高低溫和濕度環境。
3. 系統支持一次測試中提供多組可調電壓值，且每一路電壓可以程控輸入到任意一組電容上。
4. 系統可以實現對每一路的電流進行監控，當電容失效電流超限時可報警或者自動斷開該路，不影響其他路的測試。
5. 電流監控可以自定義閾值。
6. 系統配備LED面板，試試顯示每一路的失效情況。
7. 系統預留TCP通訊接口，可以實現通過TCP遠程控制和獲取測試數據。
8. 系統可以自動化測試并且生成測試報告。
9. 系統配備高阻儀，可以檢測檢測每一路的電容對應的阻值。
10. 測試通道可擴展，能達到一次2000+通道和四萬片以上電容的老化失效測試，極大提升測試效率。
系統組成
為了達到靈活的電源配置，我們采用了基于LXI的大規模矩陣，可以實現電源和測試設備到電容組的任意路由，同時采用了虹科電流監控模塊，可以同時監測上千個通路的電流，并且實現閾值的自定義和自動切斷NG短路的被測件，保證系統在有短路的情況下仍然可以正常運行測試。
核心設備
1、基于LXI總線的大規模矩陣 ：利用矩陣實現電源和高阻儀的信號路由
2、虹科電流監控模塊：實時監控每一路的電流，擁有自定義閾值報警和可配置的超過閾值自動切斷的功能
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