我們使用NI PXI和LabVIEW減小特征化系統(tǒng)的尺寸、成本和功率消耗，并縮短總特征化時(shí)間。
"我們使用NI PXI，能夠?qū)⑿陆M件的特征化時(shí)間從兩周縮短為大約一天。"
- Gary Shipley, TriQuint Semiconductor
挑戰(zhàn):
在不犧牲測量精度或提高設(shè)備成本的情況下，縮短對日益復(fù)雜的無線功率放大器（PA）的特征化時(shí)間。
解決方案:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI模塊化儀器開發(fā)功率放大器特征化系統(tǒng)，讓我們在減小資產(chǎn)設(shè)備成本、功率消耗和物理空間的同時(shí)，將測試吞吐量提高了10倍。
作者:
Gary Shipley - TriQuint Semiconductor
關(guān)于TriQuint Semiconductor
TriQuint是一個(gè)高性能射頻解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者，其產(chǎn)品涉及復(fù)雜移動(dòng)設(shè)備、國防與航天應(yīng)用以及網(wǎng)絡(luò)基礎(chǔ)設(shè)施等方面。現(xiàn)在，TriQuint通過使用 GaAs、GaN、SAW和BAW技術(shù)為世界各地的組織提供創(chuàng)新的解決方案。工程師和科學(xué)家借助TriQuint的創(chuàng)新提高了產(chǎn)品的性能，并降低了其應(yīng)用的總成本。
現(xiàn)有功率放大器特征化技術(shù)的挑戰(zhàn)
盡管無線射頻功率放大器主要被設(shè)計(jì)在單頻帶單模式下工作，現(xiàn)代的功率放大器要滿足更為多樣化的需求。實(shí)際上，現(xiàn)代功率放大器的設(shè)計(jì)可以工作在八個(gè)或更多頻帶下，并且能夠用于包括GSM、EDGE、WCDMA、HSPA+、LTE等多種調(diào)制類型。
在TriQuint Semiconductor，我們需要在多種頻率、電壓電平、溫度和功率范圍下測試日益復(fù)雜的組件。一個(gè)典型組件完整的特征化過程需要大約30,000到 40,000行數(shù)據(jù)對設(shè)計(jì)進(jìn)行完全測試。使用傳統(tǒng)的機(jī)架射頻測試設(shè)備，每行數(shù)據(jù)大約需要10秒收集，這樣每個(gè)獨(dú)立組件需要超過110小時(shí)進(jìn)行測試。
設(shè)計(jì)替代的PXI測試系統(tǒng)
為解決縮短射頻組件特征化測試時(shí)間的挑戰(zhàn)，我們基于NI PXI、LabVIEW和NI TestStand，開發(fā)了功率放大器特征化測試系統(tǒng)。我們的功率放大器測試臺包含以下儀器：
· NI PXIe-5673 6.6 GHz矢量信號發(fā)生器
· NI PXIe-5663 6.6 GHz矢量信號分析儀
· NI PXI-5691 8 GHz可編程射頻放大器
· NI PXIe-5122 100 MS/s高速數(shù)字化儀
· NI PXI-2596雙6x1 26 GHz多路復(fù)用器
· 100 Mbit/s數(shù)字I/O模塊
· 傳統(tǒng)機(jī)架頻譜分析儀
· 外置功率計(jì)、電源
· LabVIEW
· NI TestStand
· NI GSM/EDGE測量套件
· 用于WCDMA/HSPA+的NI測量套件
我們使用LabVIEW軟件更新了現(xiàn)有的測試計(jì)劃，在NI PXI測試臺上完成相同的測量序列。由于在PXI測試系統(tǒng)上的測量速度更快，我們配置特征化序列盡可能使用PXI測試臺，僅在需要的時(shí)候才使用傳統(tǒng)的機(jī)架儀器。
NI PXI的優(yōu)點(diǎn)
決定使用PXI的主要原因是能夠在不犧牲測量精度的情況下實(shí)現(xiàn)更高的測量速度。通常，在之前射頻放大器測試臺上，射頻測量所需的時(shí)間占了整個(gè)特征化時(shí)間的絕大部分。PXI利用高速數(shù)據(jù)總線、高性能多核CPU和并行測量算法實(shí)現(xiàn)了盡可能快的測試速度。此外，NI GSM/EDGE測量套件和用于WCDMA/HSPA+的NI測量套件使用合成測量，所有測量可以使用一組I/Q數(shù)據(jù)完成。我們使用這些工具包能夠測量例如增益、效率、平整度、ACP、ACLR、EVM和PVT等功率放大器特征。
使用PXI得到的結(jié)果
通過使用PXI完成功率放大器測試臺的大部分測量，我們將功率放大器特征化時(shí)間從兩周縮短為大約24小時(shí)。此外，我們在每個(gè)GSM、EDGE和WCDMA測量測試中都觀察到了測量時(shí)間的顯著改進(jìn)。表1 比較了傳統(tǒng)測試臺和PXI測試臺的測量時(shí)間和速度提升。
在單個(gè)測量序列中，PXI測試臺完成快了6至11倍。時(shí)間是基于100幀的測量得到的。
結(jié)論
因?yàn)槲覀兪褂昧薔I PXI模塊化儀器，在無需犧牲測量精度的前提下顯著縮短了射頻功率放大器的特征化時(shí)間。我們以比原來傳統(tǒng)儀器解決方案相同或更低的成本，構(gòu)建了全新的PXI測試系統(tǒng)。我們還預(yù)期會(huì)在未來的測試系統(tǒng)中使用NI PXI。
